http://www.91way.com Material testing equipment zh-cn Www.91way.com Copyright 2011-2012 Www.91way.com, All Rights Reserved 2026-5-4 9:48:54 http://www.91way.com/info_en/27604.html 材料测试仪 2025-12-3 19:36:35 SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。 <BR>本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。 <BR><BR>SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数： <BR>1． 测量范围： <BR>电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm <BR>方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ <BR>电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω <BR>导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm <BR>2． 可测半导体材料尺寸 <BR>直径：φ15~100 mm <BR>长度：≤400mm <BR>3． 测量方法： <BR>轴向、断面均可 <BR>4． 显示方式：31/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 <BR>5． 恒流源： <BR>（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。 <BR>（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA <BR>（3） 误差：±0.5%读数±2个字 <BR>6.四探针测试探头 <BR>(1) 探针间距:1mm <BR>(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% <BR>7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W<BR><BR> http://www.91way.com/info_en/27605.html 材料测试仪 2025-12-3 19:30:04 SZT-2C四探针测试仪主机采用先进电路，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。 <BR>2．屏幕采用彩色液晶显示（一代为只有数码管显示）。 <BR>3．匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入指定厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更精确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录），此为选配件。 <BR>4．SZT-2C的测试架上的测试台面比传统测试架的测试台面长宽各大100mm,以满足测试大片的需要(若是客人对测试机的尺寸有特殊要求，我们也可以根据客人的尺寸进行定做），采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（领先于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）还有可以提高测量的精度。 <BR>5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。（这台仪器的压力大小分三档可以调整，此功能为选配件） <BR>6. 本仪器的最小分辨率为0.1mΩ <BR>7．主机手自一体功能，并且测试架也是手动和自动都能一体完成，无需再配两套。 <BR>8．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。 <BR>9．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。 <BR>10．整机测量标准不确定度：≤ 2%（国内其它厂家误差为≤ 5% ） <BR><BR>SZT-2C四探针测试仪技术参数: <BR>1)． 测量范围： <BR>电阻率：10-5～105 Ω.cm <BR>方块电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ <BR>电阻：10-5～105 Ω； <BR>·2)． 可测半导体材料尺寸 <BR>直径：5mm-250mm <BR>长度：任意（需要配笔试探头） <BR>·3)． 测量方法： <BR>轴向、断面均可 <BR>4)． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 <BR>5)． 恒流源： <BR>（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。各档电流连续可调数字电压表量程及表示形式000.00～199.99 mV； <BR>（2） 量程：1、10、100μA、1、10、100mA <BR>（3） 误差：±0.5%读数±1个字 <BR>(4) 分辨力：10μV；输入阻抗＞1000MΩ；精度：±0.1% ； <BR>6).四探针测试探头 <BR>(1) 探针间距:1±0.01mm； <BR>(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:≤0.3％； <BR>(3) 探针压力：5～16 牛顿(总力)； <BR>7) 整机测量最大相对误差(用硅标样片:0.01-180Ω.cm 测试) ≤±5％ <BR>8)电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W <BR>9) 计算机通讯接口:并口，高速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA 量程档时）。连接电脑使用带自动测量功能，自动选择适合样品测试电流量程。 http://www.91way.com/info_en/27602.html 材料测试仪 2025-12-3 19:29:42 一、概述; <BR>SZT-5型材料复合测试仪是由二种硅材料测试仪器组合而成的 <BR>1、二量程的电阻测量仪器，配以手持式四针测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率 <BR>在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。 <BR>SZT－4数字式四探针测试仪，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。 <BR>2、整流法硅材料P-N极性判别仪，配有三针手持式探头，能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别 <BR>本仪器工作环境条件为： <BR>温　　度：18℃―25℃ <BR>相对湿度：50%－70% <BR>工作室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。 <BR><BR>二、SZT-5型材料复合测试仪技术参数 <BR>1、测量范围 <BR>(1)电阻率测量： <BR>电 阻 率 0.01-200Ω-cm <BR>方块电阻 0.01-200Ω-口 <BR>电 阻 0.01-200.0Ω <BR>2、数字电压表 <BR>(1)量 程: 200mV单一量程 <BR>(2)误 差: 读数 ±0.2%±3字 <BR>(3)输入电阻: &gt;10MΩ <BR>3、恒 流 源 <BR>(1)电流输出: 0~10mA连续可调 <BR>(2)量 程: 1mA, 10mA <BR>(3)误 差: ±0.2%±3字, <BR>4、手持式四探针测试头 <BR>(a)探 针 间 距:1mm <BR>(b)探针机械游移率:±1.0% <BR>(c)探 针 材 料:碳化钨,φ0. <BR>(d)压力:最大 2Kg <BR>(2)导电类型判别： <BR>可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定，同时可以声，光报警方式表示被测材料属于”重掺”。<BR><BR> http://www.91way.com/info_en/27601.html 材料测试仪 2025-10-28 19:25:49 SZT-2A半导体材料四探针测试仪 <BR><BR>主机采用先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。 <BR>2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示），手自一体（自动是标配，手动手持是自选）。 <BR>3．匹配电脑接口及软件(有232接口和USB两种接口)，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入指定厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更精确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录）,此功能为选配件。 <BR>4．二代的测试架采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（领先于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）。 <BR>5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为随选择键自动运算，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。 <BR>6.SZT-2A半导体材料四探针测试仪的最大分辨率为0.1mΩ。 <BR>7．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。 <BR>8．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。 <BR>9．整机测量标准不确定度：≤ 2%（国内其它厂家误差为≤ 5% ） <BR><BR>10. SZT-2A半导体材料四探针测试仪技术参数： <BR>1)． 测量范围： <BR>电阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm <BR>方块电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□ <BR>电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω <BR>2)． 可测半导体材料尺寸 <BR>直径：5mm-130mm <BR>长度：≤400mm <BR>如果使用手持探针，尺寸范围可以延伸 <BR>3)． 测量方法： <BR>轴向、断面均可 <BR>4)． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 <BR>5)． 恒流源： <BR>（1） 电流输出：直流电流0~100 mA <BR>（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA <BR>（3） 误差：±0.5%读数±1个字 <BR>6).四探针测试探头 <BR>(1) 探针间距:1mm <BR>(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% <BR>7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W <BR><BR>轴向、断面均可 <BR>4)． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 <BR>5)． 恒流源： <BR>（1） 电流输出：直流电流0~100 mA <BR>（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA <BR>（3） 误差：±0.5%读数±1个字 <BR><BR>6).四探针测试探头 <BR>(1) 探针间距:1mm <BR>(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% <BR>7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W http://www.91way.com/info_en/27603.html 材料测试仪 2025-10-28 19:25:41 M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。 <BR>仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。 <BR>仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合. <BR>本仪器工作条件为： <BR>温度： <BR>相对湿度： 60% ~ 70% <BR>工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源 <BR><BR>M-2型数字式电阻率测试仪技术参数 <BR>1. 测量范围： <BR>电阻率：10 -2 ~ 102Ω-cm <BR>方块电阻：10 -1 ~ 103Ω/□ <BR>电阻：10 -3 ~ 9999Ω <BR>2. 可测半导体材料尺寸 <BR>直径：15mm-100mm <BR>长（或高）度：≤400mm <BR>3. 测量方位： <BR>轴向，径向均可 <BR>4. 数字电压表 <BR>量程：2V <BR>误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB <BR>最大分辨力：10μA <BR>精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) <BR>显示：4位数字显示，小数点自动显示 <BR>5. 数控恒流源 <BR>电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。 <BR>误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB <BR>6. 四探针测试探头： <BR>探针间距： 1mm <BR>探针机械游移率：± 1% <BR>探针：碳化钨，直径0.5mm <BR>7.电源： <BR>DC 4.5V ~8V <BR>功耗： &lt; 1W <BR>电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz <BR>输出：DC5V ± 10% <BR>8. 外形尺寸： <BR>主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高) <BR><BR> http://www.91way.com/info_en/27606.html 材料测试仪 2025-10-28 19:23:20 SZT-2B四探针测试仪 <BR>1．主机采用先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。 <BR>2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。 <BR>3．匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入指定厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更精确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录），此为选配件。 <BR>4．SZT-2B的测试架上的测试台面比传统测试架的测试台面长宽各大100mm,以满足测试大片的需要，采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（领先于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）还有可以提高测量的精度。 <BR>5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。 <BR>6. 本仪器的最小分辨率为0.1mΩ <BR>7．主机手自一体功能，并且测试架也是手动和自动都能一体完成，无需再配两套。 <BR>8．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。 <BR>9．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。 <BR>10．整机测量标准不确定度：≤ 2%（国内其它厂家误差为≤ 5% ） <BR><BR>SZT-2B型四探针测试仪技术参数:1)． <BR>测量范围： <BR>电阻率：10的-4次方~10的6 次方Ω-cm <BR>方块电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ <BR>电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω <BR>2)． 可测半导体材料尺寸 <BR>直径：5mm-250mm <BR>长度：任意（需要配笔试探头） <BR>3)． 测量方法： <BR>轴向、断面均可 <BR>4)． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 <BR>5)． 恒流源： <BR>（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。 <BR>（2） 量程：1、10、100μA、1、10、100mA <BR>（3） 误差：±0.5%读数±1个字 <BR>6).四探针测试探头 <BR>(1) 探针间距:1mm <BR>(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% <BR>7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W